高阻抗（T歐級(jí)）涂層測(cè)試儀

簡要描述：高阻抗（T歐級(jí)）涂層測(cè)試儀自動(dòng)換檔：通過在標(biāo)準(zhǔn)模式下監(jiān)控最大/最小電流值來切換電流檔位。在EIS阻抗測(cè)量中，電流檔位將隨著頻率調(diào)整和計(jì)算阻抗的變化而變化；

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更新時(shí)間：2025-02-18
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高阻抗（T歐級(jí)）涂層測(cè)試儀 PGU IMP Micro是為德國弗勞恩霍夫陶瓷技術(shù)和系統(tǒng)研究所（Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme，IKTS）特殊設(shè)計(jì)的。在IPS愛譜斯標(biāo)準(zhǔn)阻抗恒電位儀PGU 10V-1A-IMP-S的基礎(chǔ)上升級(jí)成一個(gè)可靠測(cè)量高阻抗的恒電位儀PGU IMP Micro。目前為止，我們能夠可靠的測(cè)量5T Ohms的阻抗（并聯(lián)25pF的電容）。IKTS期望測(cè)量5T Ohms，為此IPS愛譜斯開發(fā)了特殊的電路設(shè)計(jì)。PGU IMP Micro沒有功率放大器，即輸入運(yùn)算放大器也提供相等的輸出信號(hào)，以提高信噪比。此外，PGU IMP Micro使用兩個(gè)輸入放大器，一個(gè)用于高頻低阻抗，一個(gè)用于低頻高阻抗。

PGU IMP Micro采用24 Bits ADC，其理論電壓測(cè)量分辨率為1μV, 理論電流測(cè)量分辨率為1aA；采用26 Bits DAC，其理論施加電壓分辨率為330nV。

高阻抗（T歐級(jí)）涂層測(cè)試儀 PGU IMP Micro采用10MHz的高頻正弦波和三角波正弦波發(fā)生器，理論上達(dá)到8000kV/s的掃描速率，受PGU IMP Micro的帶寬限制，實(shí)際上約為100kV/s。PGU IMP Micro同時(shí)加配了一個(gè)USB快速測(cè)量示波器模塊，可以檢測(cè)高達(dá)20MHz的信號(hào)，每個(gè)通道的采樣率為100Ms。

?自動(dòng)換檔：通過在標(biāo)準(zhǔn)模式下監(jiān)控最大/最小電流值來切換電流檔位。在EIS阻抗測(cè)量中，電流檔位將隨著頻率調(diào)整和計(jì)算阻抗的變化而變化；

?偏移校正：阻抗信號(hào)的測(cè)量輸出經(jīng)過有源偏移校正。因此，信號(hào)的AC交流分量被移到

零線，以最大限度地增強(qiáng)信噪比測(cè)量；

?極限控制：通過在EcmWin軟件中輸入閾值來控制測(cè)量過程，避免不必要的情況；

?順序測(cè)量：OCP、線性掃描、計(jì)時(shí)測(cè)試、阻抗測(cè)量或電化學(xué)噪聲等方法可以隨機(jī)組合在一起。借助智能跳轉(zhuǎn)函數(shù)，可以生成非常復(fù)雜的測(cè)量例程。實(shí)際上，任何特殊的測(cè)試方法都可以用它來創(chuàng)建；

<strong>高阻抗（T歐級(jí)）涂層測(cè)試儀</strong>(圖1)